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Prensa (11)

JEOL: Lanzamiento del sistema FIB-SEM “JIB-PS500i” con alta precisión y alta resolución

JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (presidente y director ejecutivo Izumi Oi) anunció su lanzamiento del sistema FIB-SEM “JIB-PS500i” el 1 de febrero de 2023. Este comunicado de prensa trata sobre multimedia. Ver la noticia completa aquí: ...

Communicado publicado en el 01/02/2023 - 09:08

JEOL: Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de ultra alta resolución atómica JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2)

JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de resolución atómica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2) en febrero de 2020. Este comunicado de prensa ...

Communicado publicado en el 14/02/2020 - 22:11

JEOL: Lanzamiento del nuevo CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP/IB-19550CCP

- Primera incorporación de la IoT en el CROSS SECTION POLISHER™ -.

Communicado publicado en el 04/09/2024 - 10:07

JEOL: lanzamiento del nuevo microscopio electrónico JSM-F100 de barrido de emisión de campo tipo Schottky

― El siguiente nivel de inteligencia analítica en microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) que combinan operatividad y una alta resolución ―.

Communicado publicado en el 04/08/2019 - 08:00

JEOL: lanzamiento de nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810

- Mejora de la eficiencia operativa desde el ajuste de los instrumentos hasta la observación y el análisis mediante el uso de tecnología de automatización -.

Communicado publicado en el 30/07/2024 - 09:11

JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de la serie JSM-IT510 de InTouchScope™

- Fácil adquisición de datos para todo tipo de muestras -.

Communicado publicado en el 08/11/2021 - 13:15

JEOL: Lanzamiento de las versiones (i)/(is) del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky JSM-IT800

- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT) -.

Communicado publicado en el 31/08/2021 - 18:35

JEOL: Lanzamiento del Nuevo Microscopio Electrónico JSM-IT800 de Barrido de Emisión de Campo Tipo Schottky

－Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT)－.

Communicado publicado en el 25/05/2020 - 14:12

JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de mesa NeoScopeTM de la serie JCM-7000

- El microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscope, SEM) de mesa con un funcionamiento sin interrupciones de imágenes ópticas a imágenes de SEM, y un análisis elemental -.

Communicado publicado en el 11/03/2019 - 20:29

JEOL lanza su sistema de recuperación de líquidos criogénicos

- Reduce de forma sustancial la evaporación del helio líquido utilizado en el imán superconductor para RMN -.

Communicado publicado en el 14/04/2023 - 00:00

JEOL lanza los microscopios electrónicos de barrido JSM-IT710HR/JSM-IT210

-Una mayor evolución permite dejar la observación y el análisis a cargo del instrumento, lo que mejora la eficacia-.

Communicado publicado en el 12/07/2023 - 17:20