JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de mesa NeoScopeTM de la serie JCM-7000

JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (www.jeol.com) (El presidente Gon-emon Kurihara) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesa, el NeoScope^TM de la serie JCM-7000, que se lanzará en marzo de 2019.

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JCM-7000 NeoScope(TM) Benchtop Scanning Electron Microscope (Photo: Business Wire)

Fundamentos de desarrollo del producto

Los microscopios electrónicos de barrido de mesa se utilizan en una amplia gama de campos, como las industrias de la electricidad, automotriz, electrónica, de maquinarias, química y farmacéutica. Además, las aplicaciones de los SEM se están ampliando no solo para cubrir la investigación y el desarrollo, sino también para abordar el control de calidad y la inspección de productos en los sitios de fabricación. Con esto, aumenta la demanda de una mayor eficiencia en el trabajo, un funcionamiento mucho más rápido y sencillo y un mayor grado de capacidades de análisis y medición.

Basado en el exitoso y galardonado predecesor de nuestros SEM de la serie InTouchScope^TM, hemos desarrollado un nuevo SEM de mesa, de la serie JCM-7000, para satisfacer esta creciente demanda en el mercado. La serie JCM-7000 incorpora funciones innovadoras que se comparan a las de la serie InTouchScope^TM. Entre las características de la serie JCM-7000, se incluyen 1) Interfaz gráfica de usuario (Graphic User Interface, GUI) simple para una alta operabilidad, 2) Tamaño pequeño, 3) Transición perfecta de imágenes de microscopio óptico a imágenes de SEM con la función “Zeromag”, 4) Análisis elemental en tiempo real durante la observación de imágenes con la función “Live Analysis” (Análisis en vivo), y 5) Plataforma motorizada de dos ejes (X, Y) para un funcionamiento sin problemas.

Además, la serie JCM-7000 viene con la función “Live 3D”, que muestra simultáneamente una imagen de SEM en vivo y una imagen de superficie en 3D reconstruida en vivo. Además, esta nueva capacidad le permite adquirir información topográfica y detallada de la muestra, junto con información de las imágenes de SEM de la superficie de la muestra.

Características principales

1. Con nuestra función “Zeromag”, la navegación de muestra es aún más fácil que nunca. “Zeromag”, que vincula la imagen de dispositivo de carga acoplada (Charge-Coupled Device, CCD) con información de color con la imagen de SEM en detalles de superficie, le permite localizar rápidamente áreas para imágenes y análisis.
2. Con la ayuda de una plataforma motorizada de 2 ejes (X, Y), se mejora la eficiencia del trabajo y las imágenes de montaje se pueden recopilar fácilmente para un área de muestra grande.
3. Con nuestra serie analítica (función “Live Analysis”), el sistema de detección de energía dispersiva (Energy Dispersive Spectrometer, EDS) integrado muestra un rango de EDS en tiempo real durante la observación de imágenes para un análisis elemental rápido y eficiente.
4. La nueva función “Live 3D” permite la observación simultánea de una imagen de SEM en vivo y una imagen de superficie en 3D reconstruida en vivo, junto con la incorporación de información topográfica y detallada.

Objetivo anual de ventas de unidades
400 unidades por año

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Gon-emon Kurihara, presidente y director representante
(Código de acciones: 6951, primera sección de la Bolsa de Valores de Tokio)
www.jeol.com

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