jeol

14 resultados

Ordenar por fecha - Ordenar por pertinencia

Todos (14)

Prensa (14)

El Departamento de Seguridad Nacional, Aduanas y Protección de Fronteras de EE. UU. selecciona los espectrómetros de masas JEOL para cinco laboratorios

JEOL USA, INC., una subsidiaria de propiedad total de JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi), ha recibido la adjudicación de un importante contrato del Departamento de Seguridad Nacional de Aduanas y Protección de ...

Communicado publicado en el 10/06/2020 - 15:26

JEOL y SCiLS firman un acuerdo de distribución para el software SCiLS Lab MVS

JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (Presidente y Director de Operaciones, Izumi Oi) y SCiLS, una división de Bruker Daltonics, anunciaron que han concluido un acuerdo de distribución mundial no exclusivo para el software SCiLS Lab MVS. Este comunicado de ...

Communicado publicado en el 08/06/2021 - 09:15

JEOL: Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de ultra alta resolución atómica JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2)

JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de resolución atómica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2) en febrero de 2020. Este comunicado de prensa ...

Communicado publicado en el 14/02/2020 - 22:11

JEOL: ECZ Luminous, Nuevo Sistema de Resonancia Magnética Nuclear de Alta Resolución, Ya Está Disponible

JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (presidente y director de Operaciones Izumi Oi) anunció la consola de resonancia magnética nuclear “ECZ Luminous” (serie JNM-ECZL) el 1.° de noviembre de 2021. Este comunicado de prensa trata sobre multimedia. Ver la ...

Communicado publicado en el 01/11/2021 - 15:19

JEOL: Lanzamiento del sistema FIB-SEM “JIB-PS500i” con alta precisión y alta resolución

JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (presidente y director ejecutivo Izumi Oi) anunció su lanzamiento del sistema FIB-SEM “JIB-PS500i” el 1 de febrero de 2023. Este comunicado de prensa trata sobre multimedia. Ver la noticia completa aquí: ...

Communicado publicado en el 01/02/2023 - 09:08

JEOL: Lanzamiento de las versiones (i)/(is) del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky JSM-IT800

- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT) -.

Communicado publicado en el 31/08/2021 - 18:35

JEOL lanza su sistema de recuperación de líquidos criogénicos

- Reduce de forma sustancial la evaporación del helio líquido utilizado en el imán superconductor para RMN -.

Communicado publicado en el 14/04/2023 - 00:00

JEOL: Lanzamiento del Nuevo Microscopio Electrónico JSM-IT800 de Barrido de Emisión de Campo Tipo Schottky

－Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT)－.

Communicado publicado en el 25/05/2020 - 14:12

JEOL: lanzamiento del nuevo microscopio electrónico JSM-F100 de barrido de emisión de campo tipo Schottky

― El siguiente nivel de inteligencia analítica en microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) que combinan operatividad y una alta resolución ―.

Communicado publicado en el 04/08/2019 - 08:00

JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de la serie JSM-IT510 de InTouchScope™

- Fácil adquisición de datos para todo tipo de muestras -.

Communicado publicado en el 08/11/2021 - 13:15

JEOL: Lanzamiento del nuevo CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP/IB-19550CCP

- Primera incorporación de la IoT en el CROSS SECTION POLISHER™ -.

Communicado publicado en el 04/09/2024 - 10:07

JEOL: lanzamiento de nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810

- Mejora de la eficiencia operativa desde el ajuste de los instrumentos hasta la observación y el análisis mediante el uso de tecnología de automatización -.

Communicado publicado en el 30/07/2024 - 09:11

JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de mesa NeoScopeTM de la serie JCM-7000

- El microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscope, SEM) de mesa con un funcionamiento sin interrupciones de imágenes ópticas a imágenes de SEM, y un análisis elemental -.

Communicado publicado en el 11/03/2019 - 20:29

JEOL lanza los microscopios electrónicos de barrido JSM-IT710HR/JSM-IT210

-Una mayor evolución permite dejar la observación y el análisis a cargo del instrumento, lo que mejora la eficacia-.

Communicado publicado en el 12/07/2023 - 17:20