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JEOL: Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de ultra alta resolución atómica JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2)
JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de resolución atómica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2) en febrero de 2020. Este comunicado de prensa ...
Communicado publicado en el 14/02/2020 - 22:11
JEOL: Lanzamiento del Nuevo Microscopio Electrónico JSM-IT800 de Barrido de Emisión de Campo Tipo Schottky
－Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT)－.
Communicado publicado en el 25/05/2020 - 14:12
JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de mesa NeoScopeTM de la serie JCM-7000
- El microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscope, SEM) de mesa con un funcionamiento sin interrupciones de imágenes ópticas a imágenes de SEM, y un análisis elemental -.
Communicado publicado en el 11/03/2019 - 20:29
JEOL: lanzamiento de nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810
- Mejora de la eficiencia operativa desde el ajuste de los instrumentos hasta la observación y el análisis mediante el uso de tecnología de automatización -.
Communicado publicado en el 30/07/2024 - 09:11
JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de la serie JSM-IT510 de InTouchScope™
- Fácil adquisición de datos para todo tipo de muestras -.
Communicado publicado en el 08/11/2021 - 13:15
JEOL: lanzamiento del nuevo microscopio electrónico JSM-F100 de barrido de emisión de campo tipo Schottky
― El siguiente nivel de inteligencia analítica en microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) que combinan operatividad y una alta resolución ―.
Communicado publicado en el 04/08/2019 - 08:00
JEOL: Lanzamiento de las versiones (i)/(is) del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky JSM-IT800
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT) -.
Communicado publicado en el 31/08/2021 - 18:35
Las Soluciones de Flujo de Trabajo In Situ de Protochips Están Disponibles para los Usuarios del Microscopio FEI
El acuerdo hace que los soportes de muestras in situ de Protochips estén más disponibles para los usuarios del microscopio FEI.
Communicado publicado en el 06/08/2014 - 10:21
Jueves 21 de noviembre - 18:09
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