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JEOL: Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de ultra alta resolución atómica JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2)
JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de resolución atómica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2) en febrero de 2020. Este comunicado de prensa ...
Communicado publicado en el 14/02/2020 - 22:11
JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de mesa NeoScopeTM de la serie JCM-7000
- El microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscope, SEM) de mesa con un funcionamiento sin interrupciones de imágenes ópticas a imágenes de SEM, y un análisis elemental -.
Communicado publicado en el 11/03/2019 - 20:29
JEOL: Lanzamiento del Nuevo Microscopio Electrónico JSM-IT800 de Barrido de Emisión de Campo Tipo Schottky
－Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT)－.
Communicado publicado en el 25/05/2020 - 14:12
JEOL: lanzamiento de nuevo microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-IT810
- Mejora de la eficiencia operativa desde el ajuste de los instrumentos hasta la observación y el análisis mediante el uso de tecnología de automatización -.
Communicado publicado en el 30/07/2024 - 09:11
JEOL: Lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido de la serie JSM-IT510 de InTouchScope™
- Fácil adquisición de datos para todo tipo de muestras -.
Communicado publicado en el 08/11/2021 - 13:15
JEOL: lanzamiento del nuevo microscopio electrónico JSM-F100 de barrido de emisión de campo tipo Schottky
― El siguiente nivel de inteligencia analítica en microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) que combinan operatividad y una alta resolución ―.
Communicado publicado en el 04/08/2019 - 08:00
JEOL: Lanzamiento de las versiones (i)/(is) del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky JSM-IT800
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT) -.
Communicado publicado en el 31/08/2021 - 18:35
Las Soluciones de Flujo de Trabajo In Situ de Protochips Están Disponibles para los Usuarios del Microscopio FEI
El acuerdo hace que los soportes de muestras in situ de Protochips estén más disponibles para los usuarios del microscopio FEI.
Communicado publicado en el 06/08/2014 - 10:21
Nanotronics presenta el nuevo sistema autónomo nSpec® Macro
El último diseño proporciona resultados rápidos de alta resolución para la inspección industrial en una sola imagen.
Communicado publicado en el 18/11/2021 - 18:24
Cuidado Personal de P&G invita a la comunidad de dermatólogos a 'adentrarse en el mundo del cuidado personal' en el 25.º Congreso Mundial de Dermatología
La división de Cuidado Personal de P&G mostrará la ciencia del cabello y la piel en la que se basan las innovaciones más recientes de Gillette, Venus y Braun. Las últimas novedades en investigación de Cuidado Personal de P&G se ...
Communicado publicado en el 04/07/2023 - 10:00
La GSMA y Mobile World Capital Barcelona anuncian nuevos patrocinadores y sede para YoMo en el Mobile World Congress 2018
La GSMA y Mobile World Capital Barcelona han anunciado hoy que Youth Mobile Festival Barcelona (YoMo Barcelona) tendrá lugar desde el martes 27 de febrero hasta el viernes 2 de marzo de 2018 en La Farga ...
Communicado publicado en el 22/11/2017 - 08:09
Las Exposiciones de Panasonic Ofrecieron Soluciones Avanzadas para Hospitales en HOSPEX Japan 2014
Panasonic exhibió una variedad de equipos y soluciones de avanzada para las instalaciones médicas y de bienestar en la 39ª International Healthcare Engineering Exhibition (HOSPEX Japan 2014), que se celebró del ...
Communicado publicado en el 20/11/2014 - 05:41
Martes 31 de diciembre - 03:30
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