Las mas buscadas
Smiths Detection presenta un escáner de difracción de rayos X vanguardista
Una nueva era para los controles de seguridad con una precisión sin precedentes en la discriminación de materiales.
Communicado publicado en el 16/04/2024 - 06:00
Rigaku presenta el detector XSPA-200 ER para el sistema de difracción de rayos X
Admite análisis cómodos y de alta sensibilidad en un instrumento de escritorio.
Communicado publicado en el 06/12/2024 - 05:04
Maxon One Explota con Nuevas y Excitantes Características y Mejoras en el Flujo de Trabajo
Simulaciones Volumétricas Avanzadas en Cinema 4D, Modelado de Simetría en Forger, Mejoras de Flujo de trabajo de Real Lens Flares y Trapcode destacadas del Lanzamiento de Noviembre.
Communicado publicado en el 09/11/2022 - 17:00
Panasonic desarrolla tecnología WBC azul de alta potencia para revolucionar las aplicaciones DDL en microfabricación
Esta tecnología admite un láser WL corto de alta potencia para microfabricación con una alta calidad de haz.
Communicado publicado en el 30/01/2020 - 00:02
DigiLens anuncia el lanzamiento de SRG+
SRG+ se convertirá en una revolución en el sector gracias a su eficiencia reflectante a un costo muy razonable..
Communicado publicado en el 03/04/2023 - 17:26
JEOL: Lanzamiento de las versiones (i)/(is) del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo tipo Schottky JSM-IT800
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT) -.
Communicado publicado en el 31/08/2021 - 18:35
JEOL: Lanzamiento del Nuevo Microscopio Electrónico JSM-IT800 de Barrido de Emisión de Campo Tipo Schottky
－Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FE-SEM) con plataforma de tecnología de inteligencia (Intelligence Technology, IT)－.
Communicado publicado en el 25/05/2020 - 14:12
Lunes 23 de diciembre - 12:48
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